3.2 E2PROM部分區域物理損壞

常溫下，短期內不會產生E2PROM部分區域物理損壞的現象。由于E2PROM在常溫下的可擦寫100萬次。但在高溫下，E2PROM的可擦寫數大大降低。如果高溫下頻繁對E2PROM進行擦寫操作，短期內易導致E2PROM部分區域物理損壞。其表現為特定數據無法正常存儲，即使使用燒錄器強制燒錄也不能恢復。判定E2PROM部分區域物理損壞的方法：用燒錄器將E2PROM中每個地址分別置0和1狀態，可檢查有無區域物理損壞。確認是E2PROM損壞，則必須更換新的E2PROM才能排除電視機的故障。若軟件處理不當則引起這種現象。要防止這種情況發生必須從軟件著手，從而避免對特定區域頻繁操作。典型實例是某高清CRT彩電AFT頻率自動跟蹤系統及其他一些判別系統的軟件設計。以AFT頻率自動跟蹤系統為例，當環境工作溫度及電源電壓變化后，高頻調諧器會有一定的頻率點漂移。軟件設計時，頻率點偏移后，軟件程序應即時記錄下新的頻率點偏移電壓值并將其數值存儲到E2PROM指定地址中。高溫下，由于相關器件的參數發生變化，頻點會隨溫度升高不斷漂移，使E2PROM數據刷新異常頻繁，從而導致電視機在高溫負荷試驗中出現E2PROM物理損壞。在查明原因后，應對該軟件進行修改，將實時存儲頻點數據方式改為頻率跟蹤掉電存儲方式，即只在電視機關機掉電的情況下記錄該數據，這樣可減少E2PROM數據刷新次數，從而解決上述問題。

4 結語

E2PROM作為一種通用存儲器件，在設計時往往容易忽視一些對其細節方面的考慮，其中一些問題在設計試制階段被發現并解決，還有一些問題是要在量產乃至售后一段時間后才暴露出來。因此，完整的現代電子產品系統，更多的是需要依靠軟硬件相互配合開發，才能使產品的可靠性到達最佳狀態。