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本次研討會,我們將從測試角度看半導體的整條產業鏈,從功率半導體器件評估與可靠性測試再到模擬芯片標定的測試誤區,同時,也將和您分享基于第三代功率半導體的電源設計及閣開發全流程測試方案,并進行演示。

泰克誠邀"芯"朋友親臨現場,現場感受泰克產品帶來的高效測試。

會議日程

時間 主題和內容簡介
13:30-14:00 簽到
14:00-14:15

開場

14:15-15:00

功率半導體器件動態測試與可靠性測試——測試原理,方法和設備

演講嘉賓:王芳芳——泰克技術專家

15:00-15:20 茶歇
15:20-16:05

模擬芯片標定的測試誤區

演講嘉賓:葉昊生——泰克技術專家

16:05-16:50

基于第三代功率半導體的電源設計及產品開發全流程測試方案

演講嘉賓:黃正峰——泰克技術專家

16:50-17:00 抽獎
 
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