- LabVIEW和測(cè)試測(cè)量技術(shù)分論壇
- 半導(dǎo)體分論壇
- 新能源汽車分論壇
- 前沿研究和科研分論壇
LabVIEW和測(cè)試測(cè)量技術(shù) 華夏廳
首席LabVIEW專家團(tuán)講解如何提高開發(fā)效率，與Python等多語(yǔ)言融合，全新開源LabVIEW框架，帶來(lái)最全面的LabVIEW新內(nèi)容。演講結(jié)束后專家團(tuán)會(huì)繼續(xù)與使用者交流，回答問(wèn)題及分享經(jīng)驗(yàn)。
| 時(shí)間 | 演講嘉賓及主題 |
| 09:30~10:30 | 主題演講（華夏廳） |
| 10:30~11:00 | Demo 參觀 |
| 11:00~11:30 |  衡山NI，Emerson T&M 資深客戶方案工程師 演講主題：LabVIEW新特性匯總及開發(fā)技巧分享 演講摘要：本技術(shù)會(huì)議將匯總介紹近年來(lái)LabVIEW的新特性，尤其是在提升測(cè)試開發(fā)效率上的新功能，從而使開發(fā)人員以最新的編程技術(shù)高效應(yīng)對(duì)測(cè)試測(cè)量軟件開發(fā)的挑戰(zhàn)。同時(shí)將分享在LabVIEW使用過(guò)程中的部分內(nèi)外部工具以及技能，幫助您的代碼開發(fā)更規(guī)范更高效。 |
| 11:30~12:00 | 
周曉霜NI，Emerson T&M 首席技術(shù)支持工程師 演講主題：LabVIEW+與Python等多語(yǔ)言編程融合實(shí)踐 演講摘要：隨著新的技術(shù)比如無(wú)人駕駛，人工智能等快速發(fā)展迭代，對(duì)新的測(cè)試項(xiàng)目和方案落地時(shí)間的要求也越來(lái)越高。有效利用各種不同語(yǔ)言和平臺(tái)下已經(jīng)開發(fā)好的"輪子"并快速集成到整體的測(cè)試方案中來(lái)可以達(dá)到事半功倍的效果。LabVIEW+套件近幾年對(duì)其他語(yǔ)言集成支持持續(xù)改進(jìn)。本主題會(huì)詳細(xì)介紹LabVIEW和Teststand對(duì)Python和.net的集成使用調(diào)試以及對(duì)gRPC的支持，互聯(lián)互通更快更好開發(fā)測(cè)試方案。 |
| 12:00~13:30 | 午餐+Demo 參觀 |
| 13:30~14:00 |  李遙NI，Emerson T&M 資深應(yīng)用工程師 演講主題：一種全新的開源LabVIEW編程框架- 可通訊狀態(tài)機(jī)框架 演講摘要：可通信狀態(tài)機(jī)（CSM）是一個(gè)基于JKI狀態(tài)機(jī)（JKISM）的全新開源的LabVIEW程序框架。它遵循JKISM的文本隊(duì)列模式，擴(kuò)展了關(guān)鍵詞以描述模塊之間的消息通信，包括同步消息、異步消息、狀態(tài)訂閱/取消訂閱等概念。在本次演講中，將通過(guò)CSM基礎(chǔ)介紹、與DQMH/Actor Framework的比較、CSM復(fù)雜場(chǎng)景的案例分享，展示CSM簡(jiǎn)潔、易測(cè)試、易拓展的優(yōu)勢(shì)。https://github.com/NEVSTOP-LAB/Communicable-State-Machine |
| 14:00~14:30 |  宋軍龍北京東方中科集成科技股份有限公司 業(yè)務(wù)拓展部經(jīng)理 演講主題：新環(huán)境下企業(yè)需要的數(shù)據(jù)采集測(cè)試方案 演講摘要：他將分享近年來(lái)國(guó)內(nèi)產(chǎn)業(yè)升級(jí)過(guò)程中測(cè)試方案發(fā)展變化，并已各類數(shù)采系統(tǒng)為例討論各行業(yè)客戶面對(duì)未來(lái)經(jīng)濟(jì)環(huán)境如何搭建自己的測(cè)試系統(tǒng)。 |
| 14:30~15:00 |  曹行NI，Emerson T&M 中國(guó)射頻無(wú)線業(yè)務(wù)增長(zhǎng)經(jīng)理 演講主題：NI射頻與無(wú)線平臺(tái)新產(chǎn)品介紹和應(yīng)用分享 演講摘要：隨著B5G/6G，低空智聯(lián)，衛(wèi)星互聯(lián)網(wǎng)等行業(yè)的方興未艾，射頻測(cè)試與無(wú)線原型驗(yàn)證系統(tǒng)的需求也在快速變化，如何應(yīng)對(duì)日益復(fù)雜的射頻系統(tǒng)的測(cè)試與驗(yàn)證成為了行業(yè)的共性挑戰(zhàn)。NI利用其先進(jìn)的測(cè)試儀器和平臺(tái)化的軟件定義能力，與工業(yè)屆和院校科研開展廣泛的合作，本次演講將基于NI第三代高性能的矢量信號(hào)收發(fā)機(jī)（VST）和軟件定義無(wú)線電平臺(tái)（USRP）的新產(chǎn)品進(jìn)行展開，介紹新一代高性能的射頻測(cè)試與原型驗(yàn)證方案，分享其應(yīng)用演示和案例。 |
| 15:00~15:30 | 茶歇+Demo 參觀 |
| 15:30~16:00 |  劉晉東北京曾益慧創(chuàng)科技有限公司（IECUBE） CMO & CPO 演講主題：Empower Future Test Engineer - 淺談集成電路教研融合 演講摘要：集成電路是一個(gè)實(shí)踐性非常強(qiáng)的交叉綜合學(xué)科，學(xué)生需要掌握的許多知識(shí)和技能必須通過(guò)實(shí)踐教學(xué)環(huán)節(jié)來(lái)培養(yǎng)，為了更好的培養(yǎng)面向產(chǎn)業(yè)需求培養(yǎng)集成電路人才，對(duì)于實(shí)踐環(huán)節(jié)的升級(jí)改造和建設(shè)是一個(gè)重點(diǎn)，而這恰恰也是高校建好微電子和集成電路專業(yè)的難點(diǎn)所在： 1) 實(shí)踐教學(xué)體系無(wú)法覆蓋集成電路"設(shè)計(jì)-制造-封裝-測(cè)試"全產(chǎn)業(yè)鏈 2) 目前實(shí)踐教學(xué)環(huán)節(jié)使用的教學(xué)設(shè)備技術(shù)落后，無(wú)法與行業(yè)技術(shù)和需求接軌 3) 由于微電子和集成電路儀器設(shè)備成本高、易損耗、占用空間大，無(wú)法保證對(duì)學(xué)生獲得充分地實(shí)踐教學(xué)資源 為幫助高校解決上述提到的挑戰(zhàn)，更好的助力集成電路人才培養(yǎng)，北京曾益慧創(chuàng)科技有限公司（以下簡(jiǎn)稱"IECUBE"）融合NI先進(jìn)的測(cè)試平臺(tái)技術(shù)，推出了微電子和集成電路專業(yè)實(shí)訓(xùn)中心建設(shè)解決方案。 |
| 16:00~16:30 |  莫映亮NI，Emerson T&M 系統(tǒng)工程部高級(jí)經(jīng)理 演講主題：高性能DC測(cè)試- NI PXI源測(cè)量單元及其應(yīng)用 演講摘要：源測(cè)量單元（SMU）被廣泛應(yīng)用于新材料研究、光電器件測(cè)試、新能源、生命醫(yī)療和半導(dǎo)體測(cè)試等領(lǐng)域。NI擁有豐富的基于PXI平臺(tái)的模塊化SMU產(chǎn)品線，其產(chǎn)品本身?yè)碛兄T多獨(dú)特功能，再結(jié)合PXI平臺(tái)的優(yōu)勢(shì)，NI PXI SMU可以為相關(guān)應(yīng)用領(lǐng)域提供高性能測(cè)試解決方案，在提高測(cè)試覆蓋率，降低測(cè)試成本，縮短產(chǎn)品上市時(shí)間等方面有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。 |
| 16:30-17:00 | 主會(huì)場(chǎng) 幸運(yùn)抽獎(jiǎng)（華夏廳） |
40+Demo齊亮相 產(chǎn)品平臺(tái)7大熱門Demo搶先劇透
現(xiàn)場(chǎng)將有40+Demo展出，產(chǎn)品平臺(tái)7大熱門Demo如下，更多Demo將陸續(xù)公開，敬請(qǐng)期待。
• 以LabVIEW為核心的開放軟件平臺(tái)
• PXI模塊化智能測(cè)試平臺(tái)
• 便攜式數(shù)據(jù)采集與控制平臺(tái)
• USRP軟件無(wú)線電設(shè)備
• 基于PXI的高帶寬矢量信號(hào)收發(fā)儀
• NI矢量信號(hào)收發(fā)儀精確度的優(yōu)質(zhì)校準(zhǔn)
• 面向NI矢量信號(hào)收發(fā)儀的高精度故障診斷方案
*Demo以現(xiàn)場(chǎng)展示為準(zhǔn)
「半導(dǎo)體」會(huì)議廳5BC
實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體測(cè)試現(xiàn)代化，串聯(lián)芯片實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)測(cè)試的每個(gè)環(huán)節(jié)。分論壇涉及多種芯片的測(cè)試案例，如Wi-Fi 7，高速ADC，光電，高功率射頻器件等，并探索整合AI輔助的測(cè)試方法。
| 時(shí)間 | 演講嘉賓及主題 |
| 09:30~10:30 | 主題演講（會(huì)議廳5BC） |
| 10:30~11:00 | Demo 參觀 |
| 11:00~11:30 |  陳彩云NI，Emerson T&M 半導(dǎo)體業(yè)務(wù)應(yīng)用工程團(tuán)隊(duì)經(jīng)理 演講主題：VST用于射頻前沿技術(shù)測(cè)試 演講摘要：本次演講將介紹最新的矢量信號(hào)收發(fā)器PXIe-5842 如何準(zhǔn)確地生成和測(cè)量所需的寬帶調(diào)制信號(hào)，支持高達(dá)26.5GHz工作頻率與2GHz帶寬，可用于測(cè)試各種最新無(wú)線通信標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，包含Wi-Fi 7, UWB, 6G FR3…等；也可應(yīng)用于航空航天與國(guó)防場(chǎng)景。具有數(shù)字和模擬脈沖調(diào)制功能，同時(shí)支持頻譜分析、信號(hào)分析和信號(hào)生成等傳統(tǒng)射頻功能，協(xié)助您克服各種測(cè)試挑戰(zhàn)。 |
| 11:30~12:00 | 
徐佩南京派格測(cè)控科技有限公司 市場(chǎng)部負(fù)責(zé)人 演講主題：高功率射頻器件測(cè)試技術(shù) 演講摘要：演講將介紹三種不同場(chǎng)景和應(yīng)用的高功率測(cè)試技術(shù)，包含基站PA芯片測(cè)試，手機(jī)Tuner開關(guān)測(cè)試以及濾波器諧振器測(cè)試。主要介紹這些測(cè)試技術(shù)的測(cè)試方法和關(guān)鍵訣竅。 |
| 12:00~13:30 | 午餐+Demo 參觀 |
| 13:30~14:00 |  孫冶NI，Emerson T&M 亞太區(qū)半導(dǎo)體業(yè)務(wù)經(jīng)理 演講主題：NI新一代射頻測(cè)試機(jī)介紹與應(yīng)用分享 演講摘要： • NI射頻測(cè)試機(jī)主要針對(duì)手機(jī)與路由器內(nèi)的射頻芯片，基站內(nèi)部的射頻芯片以及衛(wèi)星通信中的毫米波芯片。并能夠提供統(tǒng)一的平臺(tái)性方案。 • NI基于Silo的模塊化設(shè)計(jì)方案可以幫助客戶輕松升級(jí)與完善現(xiàn)有的測(cè)試機(jī)投資來(lái)支持新的射頻芯片的業(yè)務(wù)。 • NI使用實(shí)驗(yàn)室性能級(jí)別的儀表在測(cè)試機(jī)中，可以提供客戶最佳的射頻測(cè)試性能與測(cè)試時(shí)間。 • 針對(duì)毫米波波束成型芯片的測(cè)試，NI提供業(yè)界獨(dú)家的快速幅度與相位掃描的測(cè)試技術(shù)方案并可以極大的節(jié)省客戶的測(cè)試時(shí)間。 |
| 14:00~14:30 |  駱劼行上海孤波科技有限公司 產(chǎn)品經(jīng)理（測(cè)試自動(dòng)化） 演講主題：AI 輔助的芯片硅后驗(yàn)證實(shí)踐 演講摘要：隨著包括深度學(xué)習(xí)（DL）、大型語(yǔ)言模型（LLM）、強(qiáng)化學(xué)習(xí)（RL）在內(nèi)的機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)的發(fā)展，芯片硅后驗(yàn)證領(lǐng)域迎來(lái)了創(chuàng)新的機(jī)遇。本次會(huì)議將深入探討如何利用各種機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)，優(yōu)化從芯片硅后驗(yàn)證的測(cè)試需求出發(fā)，拆解測(cè)試用例并生成測(cè)試程序，收集測(cè)試結(jié)果并進(jìn)行調(diào)試，回溯Spec指標(biāo)進(jìn)行對(duì)比并最終輸出Datasheet的全流程自動(dòng)化過(guò)程。我們將探討在實(shí)際的芯片硅后驗(yàn)證的工作流中應(yīng)用最新的AI算法，提升效率并縮短開發(fā)周期。 |
| 14:30~15:00 |  陳勇NI，Emerson T&M 主任系統(tǒng)架構(gòu)師 演講主題：高速 ADC(JESD204B) 測(cè)試方案 演講摘要：傳統(tǒng)的單lane 的CMOS/LVDS 接口只能覆蓋1~2Gbps 以下速率的數(shù)據(jù)傳輸，為了達(dá)到更高的傳輸速率，只能增加更多的接口，而更高速率的JESD204B/C 沒有此問(wèn)題，因此更簡(jiǎn)潔接口的JESD204B/C將會(huì)成為高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)内厔?shì)，基于JESD204B/C的高速ADC 也會(huì)越來(lái)越普及，因此NI提出了基于PXIe-6594的高速ADC測(cè)試方案，此方案對(duì)JESD204B進(jìn)行了高度的封裝，客戶不用花時(shí)間在204B的協(xié)議實(shí)現(xiàn)上，大大簡(jiǎn)化了高速ADC的測(cè)試。 |
| 15:30~16:00 |  周鑫淼中山市博測(cè)達(dá)電子科技有限公司 副總經(jīng)理 演講主題：針對(duì)量產(chǎn)的標(biāo)準(zhǔn)化FCT平臺(tái)設(shè)計(jì) 演講摘要：目前，在工業(yè)、醫(yī)療、能源、國(guó)防領(lǐng)域，存在著大量的多種類、小批量的量產(chǎn)自動(dòng)化測(cè)試需求。博測(cè)達(dá)根據(jù)二十年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，總結(jié)出模塊化標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試平臺(tái)，針對(duì)從手動(dòng)測(cè)試到半自動(dòng)化測(cè)試到全自動(dòng)化測(cè)試提出完整的解決方案，并在多個(gè)頭部客戶中取得了非常優(yōu)秀的效果。 |
| 15:00~15:30 | 茶歇+Demo 參觀 |
| 16:00~16:30 |  李成NI，Emerson T&M 主任系統(tǒng)架構(gòu)師 演講主題：基于PXI平臺(tái)的光電子應(yīng)用測(cè)試方案 演講摘要：AI、LLM和ML正在推動(dòng)高性能計(jì)算蓬勃發(fā)展，數(shù)據(jù)高速傳輸是高性能計(jì)算的基礎(chǔ)，光電子則為高速數(shù)據(jù)傳輸提供了解決方案。光電子技術(shù)在高速演進(jìn)的階段，遇到了多通道高密度傳輸、異質(zhì)集成等問(wèn)題，也讓測(cè)試變得更加復(fù)雜具有挑戰(zhàn)；NI基于PXI平臺(tái)的解決方案，集成了電學(xué)和光學(xué)儀器，為光電混合信號(hào)的測(cè)試和測(cè)量提供了優(yōu)質(zhì)高效的平臺(tái)。 |
| 16:30-17:00 | 主會(huì)場(chǎng) 幸運(yùn)抽獎(jiǎng)（華夏廳） |
7大半導(dǎo)體熱門Demo
現(xiàn)場(chǎng)將有40+Demo展出，半導(dǎo)體7大熱門Demo如下，更多Demo將陸續(xù)公開，敬請(qǐng)期待。
• 使用 NI VST3 射頻儀器助力無(wú)線通信測(cè)試
• 基于JESD204B協(xié)議的高速ADC量產(chǎn)測(cè)試方案
• 基于PXI平臺(tái)光電混合板卡的MZM調(diào)制器測(cè)試方案
• 基于STS VST3的Wi-Fi 7 EVM 測(cè)試及軟件解決方案
• MCU自動(dòng)化測(cè)試方案
• 應(yīng)變計(jì)測(cè)試儀
• 一站式半導(dǎo)體測(cè)試解決方案
*Demo以現(xiàn)場(chǎng)展示為準(zhǔn)
「新能源汽車」會(huì)議廳5DE
新能源汽車快速普及，軟件定義汽車不僅改變了汽車本身，也將帶來(lái)汽車測(cè)試上的革命。分論壇將圍繞軟件定義汽車，自動(dòng)駕駛測(cè)試與車規(guī)半導(dǎo)體測(cè)試展開，探索全新的測(cè)試方法，以適應(yīng)快速行業(yè)變革。
| 時(shí)間 | 演講嘉賓及主題 |
| 09:30~10:30 | 主題演講（會(huì)議廳5DE） |
| 10:30~11:00 | Demo 參觀 |
| 11:00~11:30 |  王暉NI，Emerson T&M 主任系統(tǒng)研發(fā)工程師 演講主題：未來(lái)駕駛：軟件定義汽車（SDV）的測(cè)試革命 演講摘要：隨著汽車行業(yè)向軟件定義汽車（SDV）轉(zhuǎn)型，市場(chǎng)趨勢(shì)顯示對(duì)高度自動(dòng)化和靈活測(cè)試解決方案的需求激增。然而，傳統(tǒng)測(cè)試方法面臨多重挑戰(zhàn)，包括復(fù)雜的系統(tǒng)集成和快速變化的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。NI通過(guò)創(chuàng)新的HIL測(cè)試解決方案，致力于應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)。我們的方案不僅提升了資產(chǎn)利用率和生產(chǎn)力，還改善了團(tuán)隊(duì)協(xié)作，大幅縮短了設(shè)置和配置時(shí)間。借助先進(jìn)的自動(dòng)化技術(shù)和靈活性，NI確保客戶能夠快速適應(yīng)市場(chǎng)變化，實(shí)現(xiàn)高效、可靠的測(cè)試流程，從而加速產(chǎn)品上市，提升競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)。 |
| 11:30~12:00 | 
鄭凱蘇州瑞地測(cè)控技術(shù)有限公司 總經(jīng)理 演講主題：從毫米波雷達(dá)測(cè)試到域控測(cè)試，構(gòu)建完善的ADAS測(cè)試解決方案 演講摘要：從物理信號(hào)仿真，硬線信號(hào)仿真和測(cè)試，再到車載以太網(wǎng)及域控單元的測(cè)試，瑞地測(cè)控為智能網(wǎng)聯(lián)企業(yè)提供完備的測(cè)試解決方案；緊縮場(chǎng)測(cè)試、DSI3總線協(xié)議仿真器、TSN網(wǎng)絡(luò)交換設(shè)備，GMSL視頻注入單元等專用測(cè)試單元的開發(fā)為ADAS從業(yè)者提供了便利的測(cè)試手段和有效的評(píng)價(jià)方法。 |
| 12:00~13:30 | 午餐+Demo 參觀 |
| 13:30~14:00 |  徐磊NI，Emerson T&M 資深系統(tǒng)工程師 演講主題：借助NI測(cè)試方案，加速ADAS/自動(dòng)駕駛開發(fā)迭代 演講摘要：隨著ADAS和自動(dòng)駕駛技術(shù)的迅速發(fā)展，如何加速開發(fā)迭代成為行業(yè)的焦點(diǎn)。此次演講將分享市場(chǎng)動(dòng)態(tài)和技術(shù)趨勢(shì)，并充分展示NI的全面測(cè)試方案，包括數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)回灌以及HIL測(cè)試等。隨后將介紹測(cè)試方案中關(guān)鍵技術(shù)，如數(shù)據(jù)在線壓縮、RDMA直接注入和逆ISP實(shí)現(xiàn)，展示這些技術(shù)如何提升ADAS/自動(dòng)駕駛測(cè)試的效率和性能。最后，還將展望未來(lái)的技術(shù)趨勢(shì)，如集群測(cè)試，助力應(yīng)對(duì)更復(fù)雜的測(cè)試挑戰(zhàn)。 |
| 14:00~14:30 |  屠方澤上海眾執(zhí)芯信息科技有限公司 銷售與市場(chǎng)經(jīng)理 演講主題：基于NI平臺(tái)的車聯(lián)網(wǎng)與車路協(xié)同一體化測(cè)試系統(tǒng) 演講摘要：車聯(lián)網(wǎng)測(cè)試系統(tǒng)是指用于對(duì)車聯(lián)網(wǎng)技術(shù)、設(shè)備、應(yīng)用及服務(wù)等進(jìn)行全面測(cè)試的系統(tǒng)。其目的在于通過(guò)模擬實(shí)際運(yùn)行環(huán)境和各種可能的場(chǎng)景，發(fā)現(xiàn)潛在的問(wèn)題和缺陷，為車聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的研發(fā)、優(yōu)化和應(yīng)用提供可靠的保障。本演講介紹基于NI平臺(tái)的車聯(lián)網(wǎng)測(cè)試系統(tǒng)覆蓋應(yīng)用、網(wǎng)絡(luò)層、消息層、安全層和射頻測(cè)試。并支持最新發(fā)布的強(qiáng)標(biāo)GB44495-2024《汽車整車信息安全技術(shù)要求》。并介紹在實(shí)際場(chǎng)景下通過(guò)信道模擬器來(lái)真實(shí)還原外場(chǎng)無(wú)線環(huán)境。 |
| 14:30~15:00 |  余東海杭州迪為科技有限公司 HIL測(cè)試高級(jí)經(jīng)理 演講主題基于NI PXI平臺(tái)的整車級(jí)HIL仿真測(cè)試系統(tǒng) 演講摘要：隨著汽車智能化快速發(fā)展，汽車上各系統(tǒng)控制器交互場(chǎng)景相應(yīng)大幅提高，傳統(tǒng)單控制器HIL測(cè)試系統(tǒng)已無(wú)法滿足跨系統(tǒng)測(cè)試需求，迪為科技基于NI PXI平臺(tái)開發(fā)出一套整車級(jí)HIL測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)三電域、底盤域、智駕域和車身域的單一控制器、單域測(cè)試，也可聯(lián)合進(jìn)行整車級(jí)HIL測(cè)試。 |
| 15:00~15:30 | 茶歇+Demo 參觀 |
| 15:30~16:00 |  楊堃NI，Emerson T&M 半導(dǎo)體大客戶經(jīng)理 演講主題：寬禁帶半導(dǎo)體（SiC）動(dòng)態(tài)可靠性測(cè)試的挑戰(zhàn) 演講摘要：由于其優(yōu)越的材料特性，寬禁帶半導(dǎo)體(WBG)在許多功率應(yīng)用中正逐步取代傳統(tǒng)的硅基器件，其中的熱點(diǎn)之一就是SiC上車用作電動(dòng)汽車逆變器的核心組件，同時(shí)帶來(lái)的問(wèn)題是如何確保SiC模組的可靠性。本次議題將會(huì)介紹在AQG324中新定義了針對(duì)WBG的測(cè)試方法以及NI SET動(dòng)態(tài)可靠性測(cè)試方案，為SiC上車保駕護(hù)航。 |
| 16:00~16:30 |  戴留興固勢(shì)(蘇州)科技有限公司 CEO 演講主題：車規(guī)級(jí)半導(dǎo)體SiC功率模塊動(dòng)靜態(tài)測(cè)試系統(tǒng) 演講摘要：GS車規(guī)級(jí)半導(dǎo)體功率模塊測(cè)試系統(tǒng)是一款針對(duì)功率半導(dǎo)體芯片，器件，模塊的專用測(cè)試設(shè)備，系統(tǒng)可針對(duì)動(dòng)靜態(tài)測(cè)試配置不同的輸入輸出設(shè)備，實(shí)現(xiàn)IGBT，以及寬禁帶半導(dǎo)體SiC，GaN 等功率半導(dǎo)體芯片，器件，模塊的動(dòng)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試。 |
| 16:30-17:00 | 主會(huì)場(chǎng) 幸運(yùn)抽獎(jiǎng)（華夏廳） |
11大新能源汽車熱門Demo
現(xiàn)場(chǎng)將有40+Demo展出，產(chǎn)品平臺(tái)7大熱門Demo如下，更多Demo將陸續(xù)公開，敬請(qǐng)期待。
• 基于VTD和NVIDIA Orin的自動(dòng)駕駛HIL方案
• 自動(dòng)駕駛智能攝像頭回灌測(cè)試系統(tǒng)
• 車規(guī)芯片HIL測(cè)試
• 基于NI平臺(tái)開發(fā)EPS HIL測(cè)試系統(tǒng)
• 車聯(lián)網(wǎng)測(cè)試解決方案
• 完善的傳感器及域控測(cè)試解決方案
• 基于NI的IGBT/SiC的動(dòng)態(tài)測(cè)試
• 使用NI平臺(tái)進(jìn)行智能座艙的自動(dòng)化測(cè)試
• 聲音與振動(dòng)領(lǐng)域的測(cè)試測(cè)量技術(shù)
• NI電池測(cè)試系統(tǒng)
• NI ETX汽車電子生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)
*Demo以現(xiàn)場(chǎng)展示為準(zhǔn)
「前沿研究和科研」 會(huì)議廳5F
在商業(yè)航天，衛(wèi)星通信，院校科研等領(lǐng)域新技術(shù)不斷涌現(xiàn)，針對(duì)新的方案需要進(jìn)行快速的原型開發(fā)和驗(yàn)證。話題將涉及低空經(jīng)濟(jì)，數(shù)據(jù)鏈路，6G衛(wèi)星互聯(lián)網(wǎng)，高校科研等。
| 時(shí)間 | 演講嘉賓及主題 | ||
| 09:30~10:30 | 主題演講（華夏廳） | ||
| 10:30~11:00 | Demo 參觀 | ||
| 11:00~11:30 |  周林NI，Emerson T&M 首席業(yè)務(wù)經(jīng)理 演講主題快速迭代的模塊化仿真驗(yàn)證系統(tǒng)在UAM/AAM設(shè)計(jì)開發(fā)中的應(yīng)用 演講摘要：作為應(yīng)用革命性技術(shù)且滿足適航標(biāo)準(zhǔn)的新一代飛行器，eVTOL在其正向開發(fā)流程中， 需要工程團(tuán)隊(duì)快速搭建測(cè)試驗(yàn)證系統(tǒng)和手段，以同步滿足各節(jié)點(diǎn)的多種測(cè)試驗(yàn)證需求，加快開發(fā)流程；同時(shí)面對(duì)可能的多次設(shè)計(jì)迭代，需要測(cè)試驗(yàn)證系統(tǒng)具備可靈活快速升級(jí)的能力以應(yīng)對(duì)需求改變；NI System on Demand 技術(shù)為以上工程需求提供了完美的解決方案，可以根據(jù)測(cè)試需求和信號(hào)接口定義，由仿真驗(yàn)證系統(tǒng)設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)庫(kù)自動(dòng)化生成標(biāo)準(zhǔn)模塊化仿真驗(yàn)證系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案，并完成系統(tǒng)交付，同時(shí)可以根據(jù)需求變化進(jìn)行自動(dòng)化配置完成系統(tǒng)變化和升級(jí)。System on Demand 數(shù)據(jù)庫(kù)包含通過(guò)全面軟硬件驗(yàn)證的各種信號(hào)類型和多種連接方式，可以支持各種機(jī)載設(shè)備和系統(tǒng)的仿真測(cè)試，并且可以支持產(chǎn)品設(shè)計(jì)周期（V-Diagram）中不同階段的所有驗(yàn)證需求。 |
||
| 11:30~12:00 | 
劉金龍象控科技（上海）有限公司 創(chuàng)始人 / CEO 演講主題：6G衛(wèi)星互聯(lián)網(wǎng)發(fā)展趨勢(shì)與關(guān)鍵技術(shù) 演講摘要：衛(wèi)星互聯(lián)網(wǎng)是"高速泛在，天地一體"的未來(lái)6G立體通信網(wǎng)絡(luò)的重要組成部分。低軌衛(wèi)星及5G/6G NTN具有與地面蜂窩通信不同的技術(shù)挑戰(zhàn)，演講將在低軌星座、手機(jī)直連衛(wèi)星、3GPP NTN、相控陣天線、數(shù)字星座仿真等核心技術(shù)的分析與研判基礎(chǔ)上，提出快速構(gòu)建科研與工程驗(yàn)證技術(shù)底座的路徑與方案。 |
||
| 12:00~13:30 | 午餐+Demo 參觀 | ||
| 13:30~14:00 |
演講摘要：PXI技術(shù)由NI于1997年開創(chuàng)，并已發(fā)展成為全球公認(rèn)的開放式行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。NI PXI平臺(tái)憑借其卓越的性能、出色的可擴(kuò)展性及可靠的穩(wěn)定性，已成為眾多前沿科技研究中的核心工具。在本次演講中，您將聆聽到全球頂尖學(xué)者如何在醫(yī)療成像、腦科學(xué)、存算一體、鋰電池?zé)o損檢測(cè)、聲學(xué)拓?fù)鋺B(tài)等領(lǐng)域，充分發(fā)揮PXI平臺(tái)的優(yōu)勢(shì)，實(shí)現(xiàn)突破性的科研成果。此外，針對(duì)存算一體/憶阻器領(lǐng)域的加速需求，NI重磅發(fā)布了全新解決方案——UFPIV（超短脈沖測(cè)試系統(tǒng)）。通過(guò)這一創(chuàng)新技術(shù)，您將深入了解如何實(shí)現(xiàn)對(duì)復(fù)雜計(jì)算架構(gòu)的高精度測(cè)試和優(yōu)化。本次演講將由NI資深技術(shù)專家傾情分享，帶您搶先掌握前沿科技的最新動(dòng)態(tài)和應(yīng)用實(shí)踐。 |
||
| 14:00~14:30 |  陳亮陜西威邁裝備技術(shù)有限公司 總經(jīng)理 演講主題：MAL/HAL低代碼自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)介紹 演講摘要：自動(dòng)化測(cè)試軟件的開發(fā)方面具有以下挑戰(zhàn)： （1）緊迫的開發(fā)周期 （2）需求定義不清晰 （3）測(cè)試步驟不斷變化 （4）硬件設(shè)計(jì)完成之前就要開始軟件開發(fā) （5）軟件和硬件工程師分離 維護(hù)方面具有以下挑戰(zhàn)： （1）長(zhǎng)產(chǎn)品生命周期 （2）儀器故障、過(guò)時(shí)變更、產(chǎn)品更新 （3）測(cè)試步驟更改 （4）需要新硬件 （5）制造工程師通常不是原始的測(cè)試開發(fā)人員 因此，自動(dòng)化測(cè)試軟件的模塊化、靈活性和可擴(kuò)展性對(duì)于成功開發(fā)自動(dòng)化功能測(cè)試系統(tǒng)至關(guān)重要，硬件抽象層(HAl)和測(cè)量抽象層(MAl)是解決這些問(wèn)題的有效設(shè)計(jì)方法，采用抽象層會(huì)使得測(cè)試序列更快開發(fā)，更易于維護(hù)，更適應(yīng)新的儀器和測(cè)試工藝要求，便于后期維護(hù)等。 |
||
| 14:30~15:00 |  莊文軒上海華穗電子科技有限公司 項(xiàng)目經(jīng)理 演講主題：讓T/R組件測(cè)試可以黑燈 演講摘要：從T/R組件的生產(chǎn)測(cè)試場(chǎng)景出發(fā)，論述當(dāng)前T/R組件測(cè)試的痛點(diǎn)及困境。以T/R組件測(cè)試系統(tǒng)為中心，展開介紹T/R組件的黑燈測(cè)試方法。演講分為幾大板塊：T/R組件的生產(chǎn)工藝流程、自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的組成、AgileT架構(gòu)支持、系統(tǒng)案例介紹等，系統(tǒng)介紹T/R組件黑燈測(cè)試的優(yōu)勢(shì)，華穗科技的T/R組件測(cè)試系統(tǒng)是如何做到高效、高精度、高集成度的。 |
||
| 15:00~15:30 | 茶歇+Demo 參觀 | ||
| 15:30~16:00 |  劉亮曾益科技 研發(fā)總監(jiān) 演講主題：B5G/6G, 信道, 衛(wèi)星 SDR 解決方案 演講摘要：曾益科技基于 NI 硬件和軟件平臺(tái), 結(jié)合自身在射頻和 FPGA 領(lǐng)域的專業(yè)經(jīng)驗(yàn), 為客戶提供 B5G/6G, 信道, 衛(wèi)星等相關(guān)的 SDR 解決方案。 |
||
| 16:00~16:30 |  張博NI，Emerson T&M 應(yīng)用工程師 演講主題：NI Datalink 測(cè)試框架與應(yīng)用 演講摘要：本演講將結(jié)合NI高性能模塊化儀器VST（矢量信號(hào)收發(fā)儀）和FPGA協(xié)處理器，介紹NI最新的Datalink 測(cè)試框架，性能，以及其在衛(wèi)星通信領(lǐng)域的實(shí)用案例。 |
||
| 16:30~17:00 | 主會(huì)場(chǎng) 幸運(yùn)抽獎(jiǎng)（華夏廳） |
陳欣
顧恩遙
11大前沿研究和科研熱門Demo
現(xiàn)場(chǎng)將有40+Demo展出，產(chǎn)品平臺(tái)7大熱門Demo如下，更多Demo將陸續(xù)公開，敬請(qǐng)期待。
| • NI數(shù)字收發(fā)組件測(cè)試 • T/R組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) • 基于NI System-On-Demand的起落架仿真測(cè)試一體化演示平臺(tái) • 低小慢無(wú)人機(jī)探測(cè)感知系統(tǒng) • NI DataLink解決方案 • 可切換式光學(xué)聲學(xué)分辨率顯微成像系統(tǒng) *Demo以現(xiàn)場(chǎng)展示為準(zhǔn) |
• 5G NR Application Framework • 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試機(jī)臺(tái) • 陣列測(cè)試平臺(tái) • DIGILENT測(cè)試和測(cè)量系列設(shè)備 • NI半導(dǎo)體新型材料器件測(cè)試-超短脈沖測(cè)試 |